ISSN 1996-5362

Электронный научный журнал

«Молекулярные технологии»

-
-
-
Содержание
Том 1, 2007
Том 2, 2008
Том 3, 2009
Том 4, 2010
      4.1. Специальный выпуск (доклады…)
Том 5, 2011
Том 6, 2012

 

Научные статьи учитываются в РИНЦ
Свидетельство о регистрации в Информрегистре
Свидетельство о регистрации СМИ
© ФГУП "НИИПА" 2007-2012

 

ВЕРИФИКАЦИЯ ОДНОМЕРНОЙ МОДЕЛИ ГЕТЕРОСТРУКТУРНОГО ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ

Я.Б. Мартынов1), П.П. Гладышев1,2), Р.Г. Назмитдинов2), И.А.Таначев1), В.В. Тузова1,3), С.В.Филин1,3), А.А. Ходин4)

1) ФГУП «Научно-исследовательский институт прикладной акустики»; ул. 9 Мая, д. 7А, г. Дубна, Московская область, 141980; e-mail: yaroslavmartynov@yandex.ru 2)Международный Университет природы, общества и человека «Дубна», ул. Университетская, д. 19, г. Дубна, Московская область, 141980, Россия; 3) ООО «ВольтаикГруп», ул. Университетская, д. 19, г. Дубна, Московская область, 141980, Россия; 4) Институт физики, НАН Беларуси, пр. Независимости, д. 68, Минск, 220072, Беларусь

В рамках гидродинамического подхода построена одномерная модель фотоэлектрического преобразователя (ФЭП) с целью анализа его характеристик. Продемонстрировано согласие между результатами, полученными для различных характеристик CdTe-CdS ФЭП в рамках предложенной модели, с экспериментом и с результатами, полученными с помощью стандартной программы AMPS-1D. Проанализированы важные для интерпретации измеренных вольт-амперных характеристик (ВАХ) особенности ВАХ CdS-CdTe ФЭП с тонким слоем CdTe, связанные с наличием паразитного барьера Шоттки к р-области.

Ключевые слова: фотоэлектрический преобразователь, одномерная модель, p-n переход, барьер Шоттки, метод конечных разностей.

Назад